Je vais tracer et analyser les données XRD avec le logiciel Origin lab

Vous recherchez une analyse XRD précise et prête à être publiée ?

Je suis doctorant en physique avec une expertise en diffraction des rayons X (XRD), refinement de Rietveld et modélisation de données avec Origin. J’aide chercheurs, étudiants et professionnels à transformer des données expérimentales brutes en résultats scientifiques significatifs.

Mes services incluent :

Tracer des données XRD (graphiques de haute qualité)

Identification des pics et indexation hkl

Calcul de la taille de cristallite (méthode de Scherrer)

Analyse WilliamsonHall (taille et contrainte)

Refinement de Rietveld

Identification des phases

Figures et résultats prêts à être publiés

Pourquoi me choisir ?

Expertise de niveau doctorat

Analyse précise et fiable

Communication claire et réponse rapide

Graphiques et rapports de haute qualité

Ce dont j’ai besoin de votre part :

Votre fichier de données XRD (Excel, .txt ou .raw)

Tout besoin spécifique (si applicable)

Note :

Veuillez me contacter avant de passer commande pour discuter de vos besoins.

Travaillons ensemble pour transformer vos données en résultats scientifiques impactants.