Je ferai des tracés et des analyses de XRD, Raman, FTI, UV, SEM, TEM et GCD

Bonjour, je suis un chercheur professionnel avec une connaissance approfondie en science des matériaux et nanotechnologie. Ma spécialité est la conduite de projets de recherche impliquant l'analyse de données (XRD, SEM, EDX, RAMAN, FTIR, UV, CV, GCD), la création de graphiques avec différents logiciels, et la rédaction créative des résultats. J'ai plus de quatre ans d'expérience dans mon domaine.

Je maîtrise Origin, Expert High Score, Inkscape et Image J pour la tracé de données, la détermination de tailles de cristallites, taille de grains, cristallinités et la fusion de graphiques.

Je vous aiderai également à déterminer la taille de grain/particule/cristallite à partir d'images SEM en utilisant ImageJ Software.

Nous vous fournirons les services éthiques suivants :

1. Qualité du travail.

2. La satisfaction du client est ma priorité

3. Un budget convenu mutuellement.

J'espère que vous me trouverez le plus adapté à vos besoins.